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掃描透射電子顯微鏡（STEM）
掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀（SEM/EDS）人人實驗
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:14
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詳情簡介
其他描述
| 設備簡介 | 技術指標：二次電子分辨率:1.0nm(15 kV); 2.0 nm(1 kV)背散射電子分辨率:3.0 nm(15 kV)電子槍:冷場發射電子源加速電壓:0.5~30 kV（0.1 kV/步，可變）放大倍率:×30 ~ ×800,000。X射線能譜儀的元素分析范圍為Be4~U92。儀器用途：用于觀察材料表面的微細形貌、斷口及內部組織，并對材料表面微區成分進行定性和定量分析，主要用途如下： 金屬、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、礦物、纖維等無機或有機固體材料的斷口、表面形貌、變形層等的觀察；材料的相分布和夾雜物形態成分的鑒定；金屬鍍層厚度及各種固體材料膜層厚度的測定；納米材料及其它無機或有機固體材料的粒度觀察和分析 ；進行材料表面微區成分的定性和定量分析。 |
| 典型成果 | 數據更新中 |
| 開放規定 | 數據更新中 |
| 服務內容 | 數據更新中 |
| 運行狀態 | 數據更新中 |
公司簡介
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