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掃描探針顯微鏡（SPM）
SPM-8000FM 高分辨率掃描型探針顯微鏡
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:10
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SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡
HR-SPM
觀察生動的納米世界 HR-SPM是采用頻率檢測方式（Frequency Modulation）的新***代掃描探針顯微鏡。不僅可在大氣?液體環境中實現超高分辨率的觀察，還***次實現了固液界面的水化作用層（hydration）?溶劑化作用層（solvation）的觀察。
HR-SPM：High Resolution Scanning Probe Microscope |  |
SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡HR-SPM的特點
●采用FM(頻率調制)方式
●大氣?液體環境中的噪聲減少到以往的1/20
●在大氣?液體環境中實現真空型SPM的性能水平！ 以往的SPM（掃描型探針顯微鏡）/AFM（原子力顯微鏡）是AM（振幅調制）方式，而FM（頻率調制）方式從原理上就因為高靈敏度檢測從而可實現更高的分辨率。 SPM：Scanning Probe Microseope
AFM：Atomic Force Microscope
AM：Amplitude Modulation
FM：Frequency Modulation |  |
和以往SPM/AFM相比的不同
液體中原子分辨率觀察
 | 圖為在飽和溶液中觀察NaCl表面的原子排列。以往AFM（AM方式：左）湮沒在噪聲中的原子通過FM方式（右）則可以清晰地觀察到。
FM方式可以得到真正的原子分辨率（True Atomic Resolution）。 |
大氣中Pt催化粒子的KPFM觀察
 | TiO2基板上的Pt催化粒子被識別了出來，并通過KPFM進行表面電勢的測定。可以觀察到數nm大小的Pt粒子和基板間的電荷交換。右圖中，紅色○區域是正電勢，藍色□區域是負電勢。可見對于KPFM觀察，分辨率也得到了大幅的提高。 ＊KPFM（Keivin Probe Force Microscope）功能為特殊定制。 |
<引用文獻>
| 1) | Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2 Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2 Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012). |
滬公網安備31011502016460號
