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掃描電子顯微鏡（SEM）
200kV場發射透射電子顯微鏡
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:04
品 牌：型 號：JEM-2100F
狀 態：正常點擊量：2676
400-006-7520
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上海非利加實業有限公司
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上海自提或三方快遞
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儀器簡介：
JEM-2100F 應用廣泛，從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。
利用200kV場發射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實現超高分辨率圖像的觀察，同時，還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。
高亮度的場發射電子槍，輕松實現各種分析功能。
JEM-2100F*新設計的側插式側角臺，在傾斜、旋轉、加熱、制冷時都不會造成機械飄移。
SJEM-2100F可與TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera實現***體化控制。
技術參數：
1.點分辨率：0.19nm
2.線分辨率：0.14nm
3.加速電壓：80, 100, 120, 160, 200kV
4.傾斜角：25
5.STEM分辨率：0.20nm
主要特點：
1.高亮度場發射電子槍。
2.束斑尺寸小于0.5nm。
3.新式側插測角臺，更容易傾轉、旋轉、加熱和冷凍，無機械飄移。
4.穩定性好、操作簡便。
5.微處理器和PC兩套系統控制，防止死機。
滬公網安備31011502016460號
