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商品編號：20926

OPX/CPX納米劃痕儀（Nano Scratch Tester)

價格：詢價

產地：瑞士更新時間：2020-10-26 14:59

品牌：CSM型號：OPX/CPX

狀態(tài)：正常點擊量：1874

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特點
金剛石劃痕針頭
光學顯微鏡自動控制觀測
閉環(huán)載荷反饋控制
劃痕深度測量
完全符合工業(yè)標準ASTM,D7187

產品參數(shù)

產品介紹

選件
多種劃痕針頭選擇
納米或微米硬度測量模塊
真空、濕度與溫度控制
集成原子力顯微鏡或共焦顯微鏡三維成像

納米劃痕測試儀(10uN - 1N)
瑞士CSM的納米劃痕儀主要用于界定膜基結合強度與薄膜抗劃痕強度，適用的薄膜厚度***般低于800納米。納米劃痕儀可以用于多種薄膜材料的檢測分析，例如單層或多層PVD、CVD、PECVD薄膜，感光薄膜，彩繪釉漆，光學薄膜，微電子鍍膜，保護性薄膜，裝飾性涂層等等。基體可以為軟質或硬質材料，包括金屬、合金、半導體、玻璃、礦物、以及有機材料等。

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OPX/CPX納米劃痕儀（Nano Scratch Tester)

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