Zeta電位儀可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固－液界面電性，也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過(guò)程的機(jī)理,廣泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)等行業(yè)。儀器實(shí)現(xiàn)了由PC個(gè)人微機(jī)對(duì)采樣模塊的控制及后期數(shù)據(jù)處理的***體化設(shè)計(jì)，與其它同類(lèi)的產(chǎn)品相比，它具有更多的優(yōu)異性能。zeta電位是樣品穩(wěn)定性比較直觀的***個(gè)參數(shù)。

ZETA電位（Zeta potential），又叫電動(dòng)電位或電動(dòng)電勢(shì)，是指剪切面(Shear Plane)的電位，是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。由于分散粒子表面帶有電荷而吸引周?chē)姆刺?hào)離子，這些反號(hào)離子在兩相界面呈擴(kuò)散狀態(tài)分布而形成擴(kuò)散雙電層。Zeta電位是連續(xù)相與附著在分散粒子上的流體穩(wěn)定層之間的電勢(shì)差，它可以通過(guò)電動(dòng)現(xiàn)象直接測(cè)定。

其測(cè)試原理是處于懸浮液中的納米粒子和膠體粒子大多表面帶有電荷。當(dāng)電場(chǎng)作用于液體時(shí)，帶電粒子將會(huì)在電場(chǎng)的影響下運(yùn)動(dòng)。運(yùn)動(dòng)的方向及速度與粒子的帶電量、分散介質(zhì)和電場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān)。

測(cè)量Zeta 電位的常用方法主要有電泳光散射法、微電泳法、流動(dòng)電位法以及超聲電聲法：

1、電泳光散射法

常見(jiàn)的測(cè)試zeta電位的方法是利用光學(xué)法，也就是電泳光散射法，由于此方法可以和動(dòng)態(tài)光散射法相結(jié)合，隨著納米粒度及zeta電位儀的市場(chǎng)擴(kuò)大，而這種方法被廣大客戶接受，執(zhí)行iso-13099-2標(biāo)準(zhǔn)。此方法的弊端在于樣品必須要進(jìn)行稀釋后測(cè)試；不同濃度對(duì)測(cè)試結(jié)果影響比較大；測(cè)試結(jié)果重復(fù)性較差，***般在±10mv以內(nèi)。

2、超聲電聲法

電聲法是采用聲波信號(hào)，因此設(shè)備有聲波的優(yōu)勢(shì)。穿透力強(qiáng)，可以進(jìn)行原液測(cè)試。原液測(cè)試樣品的zeta電位時(shí)和稀釋后測(cè)試結(jié)果會(huì)不***樣，因?yàn)樵簳r(shí)顆粒的雙電層被壓縮。此方法優(yōu)勢(shì)有在于樣品無(wú)需稀釋?zhuān)哼M(jìn)行測(cè)試分析樣品的粒徑和zeta電位值，更加準(zhǔn)確表征樣品本身狀態(tài)；測(cè)試結(jié)果重復(fù)性比較好，***般在±0.3mV以內(nèi)；可以測(cè)試微觀參數(shù)，如德拜長(zhǎng)度，杜坎數(shù)，雙電層的面電荷密度等。

3、流動(dòng)電位法

在樣品池中加入樣品，在***定壓力梯度下將緩沖液推入樣品池，緩沖液會(huì)帶動(dòng)樣品表面的電荷流向樣品池兩邊的電極，測(cè)試得到電壓值。

4、微電泳法

此方法優(yōu)勢(shì)在于可以得到zeta電位分布情況；得到每個(gè)粒子的zeta電位值；進(jìn)行統(tǒng)計(jì)不同zeta電位的顆粒的數(shù)量，從而得到百分比；可視化，直觀的看到粒子的運(yùn)動(dòng)速度和軌跡，便于教學(xué)演示；可以測(cè)試氣泡的zeta電位值；能夠區(qū)分顆粒修飾程度和表面修飾結(jié)構(gòu)的不同。

Zeta電位的重要意義在于它的數(shù)值與膠態(tài)分散的穩(wěn)定性相關(guān)。Zeta電位是對(duì)顆粒之間相互排斥或吸引力的強(qiáng)度的度量。分子或分散粒子越小，Zeta電位的絕對(duì)值（正或負(fù)）越高，體系越穩(wěn)定，即溶解或分散可以抵抗聚集。反之，Zeta電位（正或負(fù)）越低，越傾向于凝結(jié)或凝聚，即吸引力超過(guò)了排斥力，分散被破壞而發(fā)生凝結(jié)或凝聚。